由IEEE TTTC（测试技术委员会）和CEDA（EDA委员会）主办，CCF容错计算专业委员会协办，中科院计算所计算机体系结构国家重点实验室和哈尔滨工业大学承办的IEEE国际测试大会第二届亚洲分会（ITC-Asia 2018）于2018年8月15-17日在哈尔滨召开。本次会议与第十届中国测试学术会议（CTC 2018）联合举办。注册人数超过450人，是本年度国内集成电路测试领域规模最大、规格最高、影响最广的一次科技盛会。

会场照片

　　国重常务副主任李晓维研究员和香港科技大学的Kwang-Ting (Tim) Cheng教授担任ITC-Asia 2018的大会主席，国重的李华伟研究员和日本九州工业大学的Xiaoqing Wen教授担任ITC-Asia 2018程序主席。

大会主席李晓维研究员致辞

程序主席李华伟研究员致辞

　　本次会议邀请到三位IEEE Fellow做大会报告，分别为：来自Mentor 公司的高级副总裁Janusz Rajski博士的主题报告“DFT for Automotive Functional Safety”；来自UCSB的 Li-C. Wang 教授的主题报告“AI Toward Autonomous Testing – To What Extent Can Machine Replace An Analyst?”, 来自UT Austin 的 David Z. Pan 教授的主题报告“AI and Intelligent IC Design/Manufacturing”。

　　在开幕式上，TTTC 总裁Yervant Zorian博士为中科院计算所闵应骅研究员颁发了“IEEE TTTC Significant Contribution Award”，这是大陆学者首次获得该奖项。

　　闵应骅研究员曾任CCF容错计算专委第三、四届主任，1996年当选IEEE Fellow。他在容错计算、数字电路测试等方面的学术研究做出了卓越的贡献，在国内外容错领域享有盛誉，曾获“2015 CCF容错计算终身成就奖”。

闵应骅研究员获得“IEEE TTTC Significant Contribution Award”

　　除了重磅的主题演讲外，会议还安排了针对当前热点话题“Machine Learning, a buzzword for Test Community?”的Panel，邀请到了来自联发科公司、华为公司、Mentor公司、杜克大学、台湾清华大学等涵盖产学研界的六名领域知名专家进行了观点分享，与会人员进行了热烈的研讨，受到一致好评。

Panel会场

　　此外，会议还安排了两个来自TTTC的拓导报告、两个前沿技术论坛、八个学术论文分组会议、两个工业界技术应用论坛和工业界展览等。

参会部分代表合影