受中科院计算所体系结构国家重点实验室李晓维研究员的邀请，Zorian博士于2018年3月8日来计算所交流并做了题为“Automotive Test & Reliability”的学术报告。该报告于下午2点30分在计算所四层报告厅举行。

　　在本次报告中，Zorian博士主要介绍了汽车电子的测试和可靠性分析，包括模块设计、芯片调试尤其是系统内测试阶段等。报告中提到，当今的汽车安全芯片需要多种系统内自测试模式，如通电自测试和修复，周期性片内自测试，先进的错误修正方法等。报告分析了在满足标准功能安全需求，加快自动驾驶芯片商用等方面，多种系统内测试模式的特点以及使用ISO 26262安全方案的优势。

　　Zorian博士的报告内容层层递进，清晰深刻，激发出参会人员活跃的思维，交流环节参会的老师和同学们提出了不少有意义的问题，也引发了大家的思考。最后，由实验室常务副主任李晓维研究员赠予Zorian教授讲座纪念册，表示对Zorian博士精彩报告的感谢。

　　Dr.Zorian是Synopsys公司的首席架构师和会士，同时也是Synopsys Armenia的总裁，曾任Virage Logic公司的副总裁和首席科学家，还曾是AT&T Bell实验室的杰出技术专家。目前，Dr.Zorian是IEEE TTTC（Test Technology Technical Council ）的总裁和英属哥伦比亚大学的访问教授。Dr.Zorian主要从事EDA领域的工作，已拥有34项美国专利，出版了4本专著，并发表了超过350篇文章。